Mikroskop

SISTEM KAMI

SEM yang mudah digunakan ini mampu menyiasat pelbagai jenis sampel serta mencirikan struktur dan komposisi unsur. Ia direka bentuk untuk memberikan imej dan analisis data yang maksimum bagi semua spesimen, sama ada dengan atau tanpa penyediaan awal. Sistem ini dilengkapi dengan teknologi SmartScan™ untuk resolusi imej yang lebih baik.

Kapasiti SEM:

1. SEM dengan teknologi ESEM.
2. Mampu mencirikan sampel konduktif dan tidak konduktif menggunakan imej elektron sekunder (SE) dan elektron pantulan belakang (BSE) dalam semua mod operasi.
3. Mengurangkan keperluan penyediaan sampel – mod vakum rendah dan keupayaan ESEM membolehkan pengimejan dan analisis bebas cas bagi spesimen tidak konduktif dan/atau yang mengandungi kelembapan.
4. Meningkatkan keupayaan analisis dengan membolehkan spektroskopi sinar-X penyebaran tenaga (EDS) dan difraksi elektron pantulan belakang (EBSD) untuk sampel konduktif dan tidak konduktif dalam vakum tinggi dan rendah.
5. Menjana arus tinggi yang stabil menggunakan FEG (sehingga 200nA) – membolehkan analisis yang cepat dan tepat.
6. Menyediakan pengimejan permukaan dengan mod penyahpecutan sinar (pilihan) untuk mendapatkan maklumat permukaan dan komposisi daripada sampel konduktif.